黄色片AAAAAA,天堂聊AV在线

產(chǎn)品展示 / Products

相關(guān)文章 / Article

產(chǎn)品展示您現(xiàn)在的位置: 首頁(yè) > 產(chǎn)品展示 > 德國(guó)BRUKER >

德國(guó)BRUKER中國(guó)代理探針式輪廓儀Dektak XTL
德國(guó)BRUKER中國(guó)代理探針式輪廓儀Dektak XTL集五十五年技術(shù)積淀，是薄膜厚度、應(yīng)力、表面粗糙度與形貌測(cè)量的金標(biāo)準(zhǔn)。DektakPro以卓*易用性提供亞納米級(jí)高精度數(shù)據(jù)，滿足科研與工業(yè)通用需求；DektakXTL專為大尺寸晶圓和面板設(shè)計(jì)，集成防震與自動(dòng)化系統(tǒng)，適應(yīng)嚴(yán)苛生產(chǎn)環(huán)境。廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制程監(jiān)控、微電子器件驗(yàn)證及光電器件開(kāi)發(fā)，為高*制造提供可靠、可重復(fù)的表面表征解決方案。

更新時(shí)間：2026-03-06 訪問(wèn)量：71 型號(hào)：
查看詳情
德國(guó)BRUKER中國(guó)代理探針式輪廓儀Dektak Pro
德國(guó)BRUKER中國(guó)代理探針式輪廓儀Dektak Pro集五十五年技術(shù)積淀，是薄膜厚度、應(yīng)力、表面粗糙度與形貌測(cè)量的金標(biāo)準(zhǔn)。DektakPro以卓*易用性提供亞納米級(jí)高精度數(shù)據(jù)，滿足科研與工業(yè)通用需求；DektakXTL專為大尺寸晶圓和面板設(shè)計(jì)，集成防震與自動(dòng)化系統(tǒng)，適應(yīng)嚴(yán)苛生產(chǎn)環(huán)境。廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制程監(jiān)控、微電子器件驗(yàn)證及光電器件開(kāi)發(fā)，為高*制造提供可靠、可重復(fù)的表面表征解決方案。

更新時(shí)間：2026-03-06 訪問(wèn)量：78 型號(hào)：
查看詳情
Dektak Pro/Dektak XTL德國(guó)BRUKER中國(guó)代理探針式輪廓儀
德國(guó)BRUKER中國(guó)代理探針式輪廓儀集五十五年技術(shù)積淀，是薄膜厚度、應(yīng)力、表面粗糙度與形貌測(cè)量的金標(biāo)準(zhǔn)。DektakPro以卓*易用性提供亞納米級(jí)高精度數(shù)據(jù)，滿足科研與工業(yè)通用需求；DektakXTL專為大尺寸晶圓和面板設(shè)計(jì)，集成防震與自動(dòng)化系統(tǒng)，適應(yīng)嚴(yán)苛生產(chǎn)環(huán)境。廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制程監(jiān)控、微電子器件驗(yàn)證及光電器件開(kāi)發(fā)，為高*制造提供可靠、可重復(fù)的表面表征解決方案。

更新時(shí)間：2026-03-06 訪問(wèn)量：96 型號(hào)：Dektak Pro/Dektak XTL
查看詳情
Dimension NexusBRUKER原子力顯微鏡中國(guó)代理商Dimension
BRUKER原子力顯微鏡中國(guó)代理商Dimension 原子力顯微鏡作為先進(jìn)材料研究的重要手段,廣泛應(yīng)用于多個(gè)學(xué)科和應(yīng)用領(lǐng)域,推動(dòng)了眾多科學(xué)發(fā)現(xiàn)。布魯克AFM產(chǎn)品線一直引*著AFM能力的進(jìn)一步擴(kuò)展。自20世紀(jì)80年代推出首*商用系統(tǒng)以來(lái)，始終處于行業(yè)前沿。隨著技術(shù)不斷成熟，布魯克的AFM系統(tǒng)始終提供高度可靠的高分辨率數(shù)據(jù)，并賦能科學(xué)家對(duì)日益復(fù)雜的樣品進(jìn)行多種性質(zhì)分析

更新時(shí)間：2026-02-03 訪問(wèn)量：150 型號(hào)：Dimension Nexus
查看詳情
BRUKER納米紅外光譜與成像系統(tǒng)nanolR3-S
BRUKER納米紅外光譜與成像系統(tǒng)nanolR3-S 原子力顯微鏡（AFM）的納米紅外光譜（AFM-IR）是一種將AFM的高空間分辨率與紅外光譜的化學(xué)分析能力相結(jié)合的新技術(shù)。該技術(shù)通過(guò)使用原子力顯微鏡的針尖來(lái)局部檢測(cè)樣品因紅外輻射的局部吸收而產(chǎn)生的熱膨脹信號(hào)，突破了傳統(tǒng)紅外顯微光譜由于光衍射而引起的空間分辨率限制，可實(shí)現(xiàn)優(yōu)于10nm空間分辨，單分子層靈敏度的納米紅外光譜和紅外成像。

更新時(shí)間：2026-02-03 訪問(wèn)量：117 型號(hào)：
查看詳情
德國(guó)BRUKER納米紅外光譜與成像系統(tǒng)nanolR3
德國(guó)BRUKER納米紅外光譜與成像系統(tǒng)nanolR3 原子力顯微鏡（AFM）的納米紅外光譜（AFM-IR）是一種將AFM的高空間分辨率與紅外光譜的化學(xué)分析能力相結(jié)合的新技術(shù)。該技術(shù)通過(guò)使用原子力顯微鏡的針尖來(lái)局部檢測(cè)樣品因紅外輻射的局部吸收而產(chǎn)生的熱膨脹信號(hào)，突破了傳統(tǒng)紅外顯微光譜由于光衍射而引起的空間分辨率限制，可實(shí)現(xiàn)優(yōu)于10nm空間分辨，單分子層靈敏度的納米紅外光譜和紅外成像。

更新時(shí)間：2026-02-02 訪問(wèn)量：151 型號(hào)：
查看詳情

共 16 條記錄，當(dāng)前 2 / 3 頁(yè) 首頁(yè) 上一頁(yè) 下一頁(yè) 末頁(yè) 跳轉(zhuǎn)到第頁(yè)