加速壽命試驗的目的是提高環(huán)境應力(如:溫度)與工作應力(施加給產(chǎn)品的電壓、負荷.等)，加快試驗過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間。
用于調(diào)查分析何時出現(xiàn)電子元器件，和機械零件的摩耗和使用壽命的問題，使用壽命的故障分布函數(shù)呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進行的試驗
Hast試驗箱是在非飽和濕度(65%~100%RH可調(diào))、溫度、壓力等條件下，檢測產(chǎn)品或材料可靠性耐高溫高濕能力的儀器設(shè)備。 一般用來進行材料吸濕率試驗、高壓蒸煮試驗等，若待測品是半導體，則用來測試半導體封裝之抗?jié)駳饽芰Γ郎y品被放置嚴苛的溫濕度以及壓力環(huán)境下測試，如果半導體封裝的不好，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體之中，常見的故裝原因:爆米花效應、動金屬化區(qū)域腐蝕造成之斷路、封裝體引腳間因污染造成之短路等相關(guān)問題。
Hast試驗箱
上面我們知道了什么是Hast試驗箱，那么我們在使用時進行可靠性指標分配時的注意事項有哪些呢?下面讓我們一起來了解一下吧。
(1)Hast試驗箱可靠性指標分配是一項嚴肅的工作，當設(shè)備系統(tǒng)或分系統(tǒng)的指標確定以后就要認真對待。凡是通過努力能夠?qū)崿F(xiàn)的指標，各分系統(tǒng)都要去努力實現(xiàn)，應該保證本分系統(tǒng)的可靠性達到或高于所分配的指標。系統(tǒng)總體可靠性負責人要善于昕取各分系統(tǒng)負責人的意見。但是，還須嚴格執(zhí)行局部服從全局的原則。
(2)在指標分配的基礎(chǔ)上，各分系統(tǒng)不要局限于分配的指標，要大膽地采用新技術(shù)和新材料，要想方設(shè)法改進系統(tǒng)的可靠性。
(3)在設(shè)備研制過程中，可靠性分配工作不止進行一次。隨著研制工作的不斷深入，研制時間的向前推移，技術(shù)上的不斷改進等，分配給各分系統(tǒng)的可靠性指標要適時地進行調(diào)整，使指標分配得更合理，更切合使用要求。由于某些產(chǎn)品的研制時間比較長，如果分配給各分系統(tǒng)的指標搞“終身制"的話，將使系統(tǒng)的可靠性指標落后于技術(shù)發(fā)展及使用要求而變得毫無價值。
(4)影響設(shè)備可靠性的因素很多，進行可靠性分配時，要考慮那些主要的因素，不必面面俱到。
(5)可靠性分配是基于以下基本假設(shè)進行的：
①全部元器件的失效率均為常數(shù)：
?、诋斆總€分系統(tǒng)都正常工作，在小于任務時間的時間內(nèi)，認為失效率為零，即不發(fā)生失效，在零時刻沒有任何分系統(tǒng)工作;
③每個分系統(tǒng)對系統(tǒng)失效的影響受其自身工作時間、工作方式和復雜性等因素的加權(quán)的影響;
?、芟到y(tǒng)復雜性歸一化為1，各分系統(tǒng)的復雜性之和就等于系統(tǒng)的復雜性;
?、菹到y(tǒng)失效率是各分系統(tǒng)失效率的加權(quán)和。
(6)系統(tǒng)的可靠性指標分配前應乘以(1+ψ)系數(shù)(其中ψ=0.02～0.2)后再行分配。其中ψ稱為可靠系數(shù)。因為分配中有些因素考慮不到，有些因素被忽略，乘以一個大于1的系數(shù)后，可以使系統(tǒng)的可靠性指標更有保證。
(7)目前各種書中介紹的可靠性分配方法比較多。即使是同一種分配方法也有多種名稱。經(jīng)過查閱較多資料，對比分析，歸結(jié)起來，其基本方法無非是從失效率相對比較、重要度或復雜性等方面考慮。
因此，在選用分配方法時，一定要緊緊地結(jié)合工作實際，特別要注意根據(jù)自己手中掌握的數(shù)據(jù)和資料，從方法的適用性、簡便性、經(jīng)濟性及與工程實際的一致性方面去考慮，選擇好的方法。
Hast試驗箱可靠性分配工作要進行多次，不能一勞永逸，這一點要特別注意。
